NF恩乃普ZA57630阻抗分析儀

NF公司創建于1959年，根據“凡是社會需要的， 就是我們要創造的新產品"的理念，積極探索尚未被人們了解的新領域， 不斷創新并提供自有研發產品， 為新一代的產品開發和社會發展做出了貢獻。 NF的創新技術涉及到極其廣闊的領域， 包括汽車和數字家電等前沿電子技術、 燃料電池和太陽能發電等清潔能源技術、 納米技術、 以及人造衛星和火箭等宇航技術。

NF恩乃普ZA57630阻抗分析儀從電子零件、半導體器件到材料的特性評價，應對多樣的阻抗測量需求。頻率范圍10µHz～36MHz，阻抗范圍10µΩ～100GΩ  (模式: IMPD-EXT)。

產品特點

結合用途配備豐富的功能！以合適DUT特性的設定，支持高重現性且準確的測量。

準確的評價基于實際使用的操作條件。

電子零件、電子材料可能因測量頻率及施加的信號級別而表現出不同的特性。電容器和電感器存在因寄生成分引發的頻率依賴性，二極管等半導體器件由于DC偏置疊加而產生特性變化。

要評價真實的特性，重要的是頻率、AC振幅和DC偏置的掃頻，在實際的操作條件下進行測量。

● 基本精度：±0.08%

● 頻率范圍：10 µHz～36 MHz

● 阻抗范圍：10 µΩ～100 GΩ (模式: IMPD-EXT)

● 測量AC信號級別：

0.01 mVrms～3 Vrms
0.1 µArms～60 mArms

● DC偏置：

−5 V ～ +5 V/−40 V ～ +40 V (1 kHz以上)
100 mA ～ +100 mA

● 測量時間：0.5 ms/point

● 測量參數：

Z, R, X, Y, G, B, Ls, Lp, Cs, Cp, Rs, Rp, θz, θy, D, Dε, Dµ,
Q, V, I, εs, εs’, εs”,µs, µs’, µs”, FREQUENCY

NF恩乃普ZA57630阻抗分析儀產品功能

■ 快速測量（業界最快0.5ms/point）

實現了業界最快的0.5ms/point?？s短生產線的節拍時間，提高測量作業的效率。

此外，通過增加設定的測量時間，使測量結果平均化，減輕噪聲的影響?？梢曅枰x擇最合適的測量時間。

■ 4種測量模式（應對廣泛的DUT）

1. IMPD-3T標準測量模式

本模式可以在廣泛的頻率范圍內進行高精度測量?？墒褂脺y試線及測試夾具，應對各種形狀的試樣。

2. IMPD-2T高頻測量模式

本模式可以在10MHz以上的高頻下進行穩定的測量。使用N型連接器進行2端子測量，即便配線長，也可以進行穩定的測量。

3. IMPD-EXT外部擴展測量模式

本模式為外部連接放大器或分流電阻等物進行測量。

可以通過施加高壓信號或檢測微小電壓/電流進行單獨使用本儀器無法應對的測量。

4. G-PH增益/相位測量模式

本模式可以測量濾波器、放大器等的傳輸特性。向被測電路施加掃描信號，高精度地測量其頻率響應（增益、相位）。

5. 正面面板測量端子

■ 掃頻

頻率、AC振幅、DC偏置、零頻寬

■ 測量條件等的設定

   在1個界面內直觀地進行詳細設定

1. 設定項目（SETTING VIEW）

2. 設定圖表軸

3. 設定頻率

■ 量程

1. 自動量程

監視測量結果，同時自動設定最合適的量程進行測量。
檢測到超過量程的外部噪聲或直流分量時，重新設定為更大的量程并重新測量。測量數據的變化大時啟用。

2. 固定量程

量程固定，因此不會產生因量程變化引發的測量值不連續（段差）。

■ 延遲功能

如果在掃描過程中變更了頻率、AC振幅等掃描參數，則瞬態響應將導致測量結果出現誤差。參數變更后，可以延遲開始測量的時間。延遲包括“延遲開始測量”和“延遲測量”，前者在開始測量時延遲，后者在掃描過程中每次變更參數時延遲。

■ 自動高密度掃頻

在掃頻測量中，本功能限定在測量數據突變的區間自動提高頻率密度進行測量。

在壓電振蕩器、晶體振蕩器等的共振特性測量中，本功能在相位急劇變化的共振附近的測量中啟用。

■ 誤差校正

為進行準確的評價，需根據測量誤差因子進行校正。

為進行準確的測量，需適當校正殘余阻抗、電纜長度等各種測量誤差因子。

1. 開路校正

減少因殘余導納引起的誤差

2. 短路校正

減少因殘余阻抗引起的誤差

3. 負載校正

以具有已知值的試樣作為標準阻抗，校正與真值的偏差

4. 端口延長

使用長電纜時，校正因傳輸延遲時間而產生的相位誤差

5. 電位梯度消除

消除測量信號所含的電位波動波形的影響。在由于電池等的充放電會引起電位變化的試驗的測量中啟用。

6. 補償

預先測量連接到外部的傳感器、電纜等測量系統的頻率特性，校正測量系統的誤差成分

7. 輸入加權碼

校正探頭的衰減器及前置放大器的增益

8. 自行校準

校正自身誤差

■ 標記操作

本功能用于讀取所顯示的圖表中X、Y1、Y2的測量值。

最多可使用8個標記。

1. Δ標記　顯示與基準標記（標記 1）的差異

2. ΔTRKG 標記

與Δ標記同樣顯示差異，移動到標記1時，保持恒定的掃描值差異，同時進行移動

3. 標記搜索功能

可自動搜索與設定條件一致的點

■ 順序測量

本功能預先設定多項所需的測量條件，按照該條件依次進行測量。最多可將掃描范圍分割成 32 部分，各范圍內按照不同的測量條件進行測量。
可高效地測量因電壓值而使特性發生變化的多層陶瓷電容器（MLCC）、電感器及變壓器等器件。

■ 圖表顯示

1. SINGLE 顯示 /SPLIT 顯示

可選擇在 1 個畫面內顯示 1 個圖表的“SINGLE”和上下顯示 2 個圖表的“SPLIT”

2. 相位顯示操作

±180°、0°～＋360°、－360°～0°、UNWRAP（連續顯示）、 360°移位、孔徑（群延遲特性）

3. 跡線操作

可改寫測量數據跡線（MEAS）和最多 8 條參照數據跡線（REF）

4. 自動存儲

本功能在掃描測量結束后自動將 MEAS 跡線復制到 REF 跡線中。在隨時間而變化的特性觀測中啟用。

■ 共振點跟蹤測量

本功能在測量具有共振的試樣時，使測量頻率自動跟蹤試樣的共振頻率。 即使試樣具有振幅依賴性或共振頻率隨時間變化而波動，也可以始終進行與共振頻率一致的測量。本功能便于在壓電元件的共振點附近進行連續測量。

                    共振頻率變化（1.6 kHz→1.5858 kHz）、自動跟蹤

■ 等效電路估算

本功能將掃頻測量獲得的阻抗特性應用于等效電路模型，從而求出LCR 元件的值（電感值、電容值、電阻值）。準備有以下 6 種模型。等效電路估算結果可以用 CSV 格式保存。

1. 等效電路模型

                                   等效電路估算

■ 壓電常數計算

本功能測量壓電陶瓷的頻率 - 阻抗特性，并計算機電耦合系數和壓電常數等。

按照 JEITA 標準《EM-4501A　壓電陶瓷振蕩器的電氣試驗方法》規定的方法計算參數。

1. 測量結果顯示

2. 常數計算畫面

■ 相對介電常數測量

可以預先設定試樣尺寸等信息，將阻抗測量結果（Cp，Rp）換算為復相對介電常數進行顯示。

● 相對介電常數 εs

● 相對介電常數實部 εs’

● 相對介電常數虛部 εs”

● 損耗率 Dε

■ 相對導磁率測量

可以預先設定試樣尺寸等信息，將阻抗測量結果（Ls, Rs）換算為復相對導磁率進行顯示。

● 相對導磁率µs

● 相對導磁率實部 µs’

● 相對導磁率虛部 µs”

● 損耗率 Dµ

■ 比較器設定畫面

1. 分類判定

本功能最多可將判定結果分為14類。

2. 極限判定

本功能在已設定的范圍內判定測量結果是否合格。

3. 區域判定

本功能通過X軸(掃描參數)和Y1/Y2軸(測量結果)的2個維度判定掃描測量結果是否合格。

4. 處理器接口

可以將比較器的判定結果輸出到背面面板上配備的處理器接口連接器。通過連接零件處理器，可以構建零件的自動判別系統。

■ 外部基準時鐘

外部的 10MHz 時鐘信號可以用作基準時鐘。
通過使用精度高于內部基準時鐘的基準時鐘，可以提高測量頻率的精度和穩定性。
此外，通過采用與其他儀器通用的基準時鐘，可以共享頻率精度。

■ 存儲器操作

測量條件及測量數據可以保存到內存或 USB 存儲器中，也可以進行讀取。

用于電化學阻抗特性測量

配備用于測量各種電化學阻抗的功能，例如測量電池的內部阻抗等。

● 可以從超低頻10μHz開始測量

● 利用電位梯度消除功能，抑制充放電對電位變化測量的影響

● 利用0° SYNC功能，在相位0°處變更測量頻率，使測量前后對試樣的電荷轉移量為零。

● 利用測量同步驅動功能，僅在測量過程中輸出信號，從而將施加信號產生的電池負擔減輕到最小限度。

本文來源于日本NF株式會社

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